What Causes Performance Degradation in Cross-Subject EEG Classification?

ABSTRACT

中文摘要

跨被试脑电图（EEG）分类的性能通常显著低于被试依赖设置。尽管这一现象在文献中被广泛观察到，但其根本原因尚未得到系统研究。本文设计了一系列受控实验，跨不同 EEG 任务研究跨被试分类性能下降背后的机制。作者表明，这种性能下降总体可以归因于两个因素：被试间变异和捷径学习。具体而言，每名被试都包含多个类别的 EEG 分类任务，例如运动想象、情绪识别和 ERP 刺激分类，主要受到被试间变异影响；而每名被试只对应单一类别的任务，例如脑疾病检测，则主要受到基于被试特异特征的捷径学习影响。这些发现为跨被试 EEG 分类的挑战提供了新的理解，并强调了 EEG 研究采用适当评估协议的重要性。代码已经公开。